发布时间：2022/02/19 浏览量：1872

        

 无锡君睿科技有限公司探针卡业务简述 

         一、团队成员经验丰富，设计定制开发制作能力强

公司团队成员有多年台湾、韩国、日本等半导体探针企业MMK、SV、JEM等国际大厂的研发、生产工作经验，公司针卡部门自成立以来，针卡业务随着探针台设备的业务也不断发展，结合上游供应链的良好合作关系以及自有的过硬技术，有能力专注于为半导体产业芯片中测提供测试解决方案支持。

二、我们的针卡制作和检测设备齐全，有多年稳定质量及时交付的制作能力

三、可定制生产的悬臂针卡种类全，服务于全国晶圆厂和测试服务商

       公司主要产品有：各式探针卡(Probe Card)服务与逻辑测试、高电流和高压测试；通用和定制的PCB board 设计生产。晶圆测试卡是一片布满探针的电路板，用于晶圆针测，是测试机台与待测晶圆测试分析的界面，主营应用于在检测制作完成后的整片晶圆良率，电性能量测来筛选不良品，是影响芯片制造成本的重要技术环节。

       我们专注于为半导体测试（Semiconductor Test)提供测试设备支持，在Wafer Probing晶圆测试中有较强的技术能力，是专业的晶圆测试环氧树脂探针卡制造商，能够为企业定制解决方案。

       测试设备利用探针卡与待测晶圆做信号的传递，探针是直接接触到晶圆的部分，因此待测晶圆能否测试成功，探针的最重要的部分。

       鉴于规模化测试成本考虑，客户会需要多site同时测试。具体来说，晶圆测试每个裸片pad针测，是在检测头装上以金线制成的细发之探针，与晶粒上的pad 接触。测试其电气特性。不合格的晶粒会被标上记号，而后当晶片依晶粒为单位切割为独立芯片时，标记不合格的晶片会被淘汰，不再进行下一个制程。以免增加成本。

   

                                

                 

 

                              Device under Test 设备                                                            利用Probe card 的test 的过程 

      如您有任何制作环氧树脂探针卡的需求，请予我们联系。

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      4.  探针卡清针检测用高倍金相显微镜 https://www.junr.com.cn/semiconductor%20news/657.html

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      6. 产生于1969年的悬臂探针卡的发展历程介绍  https://www.junr.com.cn/semiconductor%20news/669.html

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