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24
2025-11
探针台显微镜怎么选?全面解析不同显微镜类型与最佳方案
想为探针台选择最合适的显微镜?本指南全面介绍光学显微镜、长工作距离显微镜、数字显微镜、显微成像系统等类型,分析优缺点、适用场景与选型重点,帮助半导体、材料研究、微电子测试工程师做出正确选择。
19
2025-11
全自动探针台选购指南 | 2025专业手册
一份全面的技术指南,涵盖全自动探针台的规格参数、自动化功能、精度要求、电气性能、晶圆处理及成本分析。适用于半导体实验室和晶圆测试采购人员。
06
2025-11
购买二手半导体设备十大注意事项
购买二手半导体设备时,避免代价高昂的错误。了解 10 个关键误区,以及如何更明智、更安全、更高效地进行购买。
03
2025-11
TSK UF3000、UF2000 和 AP3000 - 适用于 200mm 和 300mm 半导体测试
比较 ACCRETECH / TSK UF2000、UF3000 和 AP3000 晶圆探针台。了解它们在精度、自动化程度、性能和成本方面的关键差异。
30
2025-10
悬臂式探针卡 vs 垂直探针卡
深入了解悬臂式探针卡和垂直式探针卡之间的区别——包括结构、性能、应用和未来创新方向。学习如何为晶圆测试选择合适的探针卡,从模拟集成电路到先进逻辑集成电路。
24
2025-10
尼康 NSR S204 光刻机
探索尼康 NSR S204 步进式光刻机——一款久经考验的 200 毫米晶圆光刻工具,以其精度、稳定性和成本效益而闻名。了解其技术规格、系统架构和性能优势。
22
2025-10
NIKON NSR S206D 步进式光刻机
探索尼康 NSR S206D 步进式光刻机,这是一款专为 200 毫米晶圆制造而设计的高性能光刻系统。NSR S206D 专为卓越的套刻精度、高产量和高图像保真度而设计,是先进 IC 和 MEMS 的理想选择。
16
2025-10
HP 5517A、5517B、5517C、5517CL、5517D、5517DL、5517EL、5517FL、5517GL激光干涉仪
探索 HP 5517A–GL 激光干涉仪系列,了解详细规格、型号对比和翻新解决方案。
10
2025-10
二手 ACCRETECH / TSK 设备清单 – 晶圆探测器、切割锯和计量工具
探索ACCRETECH/TSK的全系列二手设备,包括晶圆探针台、切割锯和表面计量工具。JunR Technology提供专业的翻新、测试和全球支持。
28
2025-9
TSK / ACCRETECH UF2000 晶圆探测器 – 规格、应用及可靠的二手设备
探索 TSK UF2000 晶圆探测器:功能、规格和优势。JunR Technology 提供翻新的 UF2000 设备、零件和专家支持。
25
2025-9
Novellus C1 PECVD 系统 | JUNR 翻新解决方案
探索 Novellus C1 PECVD 系统:可靠、经济高效,并经过翻新,适用于晶圆厂和研发部门。现已在无锡君睿提供专家支持。
23
2025-9
TSK UF190R 晶圆探针台 | 二手及翻新解决方案
探索 TSK UF190R 晶圆探测器的功能和优势。JUNR 为全球晶圆厂提供二手 UF190R 系统、手册、备件和专家支持。
19
2025-9
尼康步进机PCB板维修 :诊断、维护和更换
正在寻找专业的尼康步进机PCB板维修服务?了解PCB故障的原因、维修方法以及为什么对于半导体制造厂而言,维修比更换更经济实惠。
16
2025-9
二手尼康 KrF 步进式光刻机 (NSR-S205C / S306C)
探索购买二手尼康 KrF 步进式光刻机 (NSR-S205C / S306C) 的优势。了解成熟节点半导体生产的检验技巧、翻新见解、备件供应情况和成本节约策略。
10
2025-9
ACCRETECH / TSK 探针台常见故障排除指南
了解常见的 ACCRETECH/TSK 探针台故障排除方法。发现问题、解决方案和维护技巧,以减少停机时间并提高良率。
08
2025-9
二手 ACCRETECH / TSK 探针台出售 | 可靠的晶圆测试解决方案
探索二手 ACCRETECH / TSK 探针台的销售情况。了解主要型号、购买技巧,以及为什么翻新晶圆探针台是晶圆厂和实验室的经济实惠之选。
04
2025-9
AMAT CVD 节流阀:选型、材料和维护指南
了解 AMAT CVD 节流阀如何控制腔室压力、关键材料选项、模型变化和维护技巧,以提高晶圆厂的正常运行时间和产量。
01
2025-9
CVD/蚀刻工具中的 O 形圈和密封件 | 材料选择指南
了解如何为 CVD 和蚀刻工具选择合适的 O 形圈和密封件。比较 FKM、FFKM 和其他材料,以减少停机时间、泄漏和成本。
28
2025-8
TSK AP3000 vs AP3000e : 晶圆探测器比较
探索 TSK AP3000 和 AP3000e 晶圆探测器之间的主要区别。了解它们的测试功能、软件功能、环境性能和成本考量,以便选择适合您半导体需求的探测器。
26
2025-8
Accretech / TSK AP3000e 用于不同的测试环境
了解 Accretech/TSK AP3000e 晶圆探测器如何适应各种半导体测试环境,包括研发、大批量生产、热可靠性测试和射频器件评估。了解其为何因其准确性、灵活性和效率而备受信赖。
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